微波暗室对外出租信息

出租单位：西安安列德电子科技有限公司

测试地点：西安市高新区高新五路2号创拓大厦228室

咨询电话：牛工 13772441899

平面近场测试系统介绍

该平面近场测试系统包含：扫描架子系统、射频子系统、控制子系统、计算机子系统、待测天线支架等，可以将被测天线在收、发两种状态下进行测试，并可相互转换。

该系统既能对常规天线进行测试，也能对常规阵列天线和相控阵天线进行测试。

测试频率范围：4~50Ghz

测试动态范围：≥70db

扫描行程：1.5*1.5*0.3m

待测天线支架承重：50kg

系统功能：

1）能测试天线各个截面的二维方向图和空间立体方向图

2）天线方向性系数和增益

3）分析天线方向图参数：波束宽度、零值深度、零值位置、副瓣位置电平、交叉极化鉴别、圆极化轴比

4）能分析任意截面的幅相特性

5）能分析天线的等值线图

6）能诊断相控阵天线失效单元、幅相误差及移相器误码等

7）具有相控阵天线校准功能

8）能自动诊断和计算口径等天线的幅相误差和相位中心。

系统测量精度指标

1）波束宽度测试误差≤1/10波束宽度

2）波束指向测试误差≤1/50波束宽度

3）增益测量最大误差≤±0.25db

4）副瓣电平最大测量误差：

连续波测量：

-20db副瓣时≤±0.5db

-30db副瓣时≤±1.0db

-40db副瓣时≤±1.8db

5）幅相测量误差：幅度≤±0.25db，相位≤±2.5°